Espectrômetro de fluorescência de raio x
Bureau de Supervisão de Qualidade e Técnica (Diretriz Ambiental)
RoHS / Rohs (China) / ELF / EN71
Brinquedo
Papel, cerâmica, tinta, metal, etc.
Materiais elétricos e eletrônicos
Semicondutores, materiais magnéticos, solda, peças eletrônicas, etc.
Aço, metais não ferrosos
Ligas, metais preciosos, escória, minério, etc.
indústria química
Produtos minerais, fibras químicas, catalisadores, revestimentos, tintas, cosméticos, etc.
ambiente
Solo, alimentos, resíduos industriais, pó de carvão
Óleo
Óleo, óleo lubrificante, óleo pesado, polímero, etc.
de outros
Medição de espessura de revestimento, carvão, arqueologia, pesquisa de materiais e perícia, etc.
● Três tipos diferentes de sistemas de segurança de radiação de raios-X, intertravamentos de software, intertravamentos de hardware e intertravamentos mecânicos eliminam completamente o vazamento de radiação em qualquer condição de trabalho.
● O XD-8010 apresenta um caminho óptico de design exclusivo que minimiza as distâncias entre a fonte de raios X, a amostra e o detector, ao mesmo tempo que mantém a flexibilidade de alternar entre uma variedade de filtros e colimadores.Isso melhora significativamente a sensibilidade e reduz o limite de detecção.
● A câmara de amostra de grande volume permite que grandes amostras sejam analisadas diretamente sem a necessidade de danos ou pré-tratamento.
● Análise simples de um botão usando uma interface de software conveniente e intuitiva.Não é necessário treinamento profissional para realizar a operação básica do instrumento.
● O XD-8010 fornece análise elementar rápida de elementos de S a U, com tempos de análise ajustáveis.
● Até 15 combinações de filtros e colimadores.Filtros de várias espessuras e materiais estão disponíveis, bem como colimadores que variam de ± 1 mm a ± 7 mm.
● O poderoso recurso de formatação de relatório permite a personalização flexível dos relatórios de análise gerados automaticamente.Os relatórios gerados podem ser salvos nos formatos PDF e Excel.Os dados de análise são armazenados automaticamente após cada análise. Dados históricos e estatísticas podem ser acessados a qualquer momento a partir de uma interface de consulta simples.
● Usando a câmera de amostra do instrumento, você pode observar a posição da amostra em relação ao foco da fonte de raios-X.Fotos da amostra são tiradas quando a análise começa e podem ser exibidas no relatório de análise.
● A ferramenta de comparação de espectros do software é útil para análises qualitativas e identificação e comparação de materiais.
● Usando métodos comprovados e eficazes de análise qualitativa e quantitativa, a precisão dos resultados pode ser garantida.
● O recurso de ajuste de curva de calibração aberta e flexível é útil para uma variedade de aplicações, como a detecção de substâncias nocivas.
Método de análise de elemento prejudicial
| Substâncias perigosas | Exemplo | |
| Análise de Triagem | Análise detalhada | |
| Hg | Espectroscopia de raios X | AAS |
| Pb | ||
| Cd | ||
| Cr6 + | Espectroscopia de raios-X (análise de Cr total) | Cromatografia iônica |
| PBBs / PBDEs | Espectroscopia de raios-X (análise de Br total) | GC-MS |
Processo de Gestão da Qualidade
Medição de oligoelementos nocivos em amostras de polietileno, como Cr, Br, Cd, Hg e Pb.
• A diferença de valores dados e os valores reais de Cr, Br, Cd, Hg e Pb.
A diferença de valores dados e os valores reais de Cr, (Unidade: ppm)
| Amostra | Valor Dado | Valor real (XD-8010) |
| Em branco | 0 | 0 |
| Amostra 1 | 97,3 | 97,4 |
| Amostra 2 | 288 | 309,8 |
| Amostra 3 | 1122 | 1107,6 |
A diferença de valores dados e os valores reais de Br, (Unidade: ppm)
| Amostra | Valor Dado | Valor real (XD-8010) |
| Em branco | 0 | 0 |
| Amostra 1 | 90 | 89,7 |
| Amostra 2 | 280 | 281,3 |
| Amostra 3 | 1116 | 1114,1 |
A diferença de valores dados e os valores reais de Cd, (Unidade: ppm)
| Amostra | Valor Dado | Valor real (XD-8010) |
| Em branco | 0 | 0 |
| Amostra 1 | 8,7 | 9,8 |
| Amostra 2 | 26,7 | 23,8 |
| Amostra 3 | 107 | 107,5 |
A diferença de valores dados e os valores reais og Hg, (Unidade: ppm)
| Amostra | Valor Dado | Valor real (XD-8010) |
| Em branco | 0 | 0 |
| Amostra 1 | 91,5 | 87,5 |
| Amostra 2 | 271 | 283,5 |
| Amostra 3 | 1096 | 1089,5 |
A diferença de valores dados e os valores reais de Pb, (Unidade: ppm)
| Amostra | Valor Dado | Valor real (XD-8010) |
| Em branco | 0 | 0 |
| Amostra 1 | 93,1 | 91,4 |
| Amostra 2 | 276 | 283,9 |
| Amostra 3 | 1122 | 1120,3 |
Os dados de medição repetidos da amostra 3 Cr1122ppm, Br116ppm, Cd10ppm, Hg1096ppm, Pb1122ppm (Unidade: ppm)
| Cr | Br | Cd | Hg | Pb | |
| 1 | 1128,7 | 1118,9 | 110,4 | 1079,5 | 1109,4 |
| 2 | 1126,2 | 1119,5 | 110,8 | 1072,4 | 1131,8 |
| 3 | 1111,5 | 1115,5 | 115,8 | 1068,9 | 1099,5 |
| 4 | 1122,1 | 1119,9 | 110,3 | 1086,0 | 1103,0 |
| 5 | 1115,6 | 1123,6 | 103,9 | 1080,7 | 1114,8 |
| 6 | 1136,6 | 1113,2 | 101,2 | 1068,8 | 1103,6 |
| 7 | 1129,5 | 1112,4 | 105,3 | 1079,0 | 1108,0 |
| Média | 1124,3 | 1117,6 | 108,2 | 1076,5 | 1110,0 |
| Desvio padrão | 8,61 | 4,03 | 4,99 | 6,54 | 10,82 |
| RSD | 0,77% | 0,36% | 4,62% | 0,61% | 0,98% |
Filtro secundário para elemento de Pb (amostras de substrato de aço), Amostra: Aço (Pb 113ppm)
1. A radiação de raios X do tubo de raios X primário é irradiada através de um colimador para a amostra.
2. Características de excitação de raios-X primários dos elementos contidos nos raios-X de amostra através do colimador secundário para o detector
3. Processado através do detector, formando dados de espectroscopia de fluorescência
4. A análise de dados de espectroscopia de computador, análise qualitativa e quantitativa é concluída
| Modelo | NB-8010 | |
| Análise princípio | Fluorescência de raios-x dispersiva de energia análise | |
| Faixa de Elementos | S (16) | |
| Amostra | Plástico / metálico / filme / sólido / líquido / pó, etc., qualquer tamanho e forma irregular | |
| Tubo de raio x | Alvo | Mo |
| Tensão do tubo | (5-50) kV | |
| Corrente do tubo | (10-1000) e outros | |
| Irradiação de amostra diâmetro | F1mm-F7mm | |
| Filtro | 15 conjuntos de filtro composto são selecionado automaticamente, e a conversão automática | |
| Detector | Importações dos Estados Unidos Detector Si-PIN | |
| O processamento de dados placa de circuito | Importações dos Estados Unidos, com o uso de conjuntos de detectores Si-PIN | |
| Amostra observação | Com câmera CCD de 300.000 pixels | |
| A câmara de amostra Tamanho | 490 (L)´430 (W)´150 (H) | |
| Método de análise | Linear linear, linhas de código quadráticas, correção de calibração de força e concentração | |
| Sistema operacional Programas | Windows XP, Windows 7 | |
| Gestão de dados | Gerenciamento de dados do Excel, relatórios de teste, Formato PDF / Excel salvo | |
| Trabalhando ambiente | Temperatura: £ 30°C. Umidade £ 70% | |
| Peso | 55kg | |
| Dimensões | 550´450´395 | |
| Fonte de energia | AC220V±10%, 50/60 Hz | |
| Determinação condições | Ambiente atmosférico | |